用語集

A

Absolute EMV
EMV(絶対値)
指定した電圧値を、エレクトロンマルチプライア電圧(EMV)として使用します。チューニングファイルの値は使用されません。範囲は 0 ~ 3000 V です。この範囲外の値を入力すると、最も近い制限値に自動的に変換されます。許容範囲内の値は最も近いステップサイズに自動的に調整されます。

ALSオートサンプラ。サンプルの注入プロセスを自動化するのに役立ちます。バイアルがトレイにある場合、機器はそのバイアルを使用して、サンプルおよび溶媒の洗浄を行って指定の量のサンプルを注入します。

Amount
アマウント
サンプル内の化合物の量。

AMU原子質量単位。マススペクトロメータで生成された微小な質量を表す単位です。正確な用語は「質量電荷比」で、略語は m/z です。

AMUgain
AMU ゲイン
マスフィルターの DC 電圧と RF 電圧の比率を調整することにより、質量ピークの幅に影響を与えます。値が高くなるとピークは狭くなりますが、低質量より高質量に大きく影響します。

AMUoffset
AMU オフセット
質量分析で、マスフィルターの RF 電圧に対する初期 DC オフセット値を調整することにより、質量ピークの幅に影響を与えます。値が高くなると、すべての質量でピークは狭くなります。

Area
面積
データ解析で、クロマトグラフピークのベースラインより上の積分されたエリアにより与えられる測定レスポンス。

Area percent
面積パーセント
データ解析で、その分析にあるすべてのピークのトータル面積に対するパーセントとして計算された各ピークの面積。

Area reject
面積リジェクト
データ解析で、目的ピークの最小面積を設定する積分イベントです。積分は、ベースライン補正後に面積リジェクト値より小さいピークをリジェクトします。

Area sum
面積和
データ解析で、インテグレータが面積和オンの時間から面積和オフの時間までの面積を合計する、その両端のポイント(ON/OFF)の時間を指定する積分イベントです。面積和によって作成されるピークのリテンション/マイグレーションタイムは、開始時間と終了時間の平均です。

Attractor
アトラクタ
データ解析で、マニュアル積分に使用するツール。この機能により、新しいエレメントを直接シグナルに移動したり、隣接するベースラインセグメントに直接添付したりできます。

Audit trail
監査証跡
オペレータによる入力や、データの作成、変更、削除を実行した日付と時間を個別に記録したもの。データとリンクしており、解除できないようにされているレコード。

メソッド、データおよび結果セットの 3 つのレベルの監査証跡が利用できます。メソッドの監査証跡には、解析メソッドの 2 つの連続した保存バージョンに対応するすべてのメソッドパラメータの変更が記載されます。データの監査証跡には、解析メソッドのリンク、解析、マニュアル操作などのデータの結果を変更する可能性のあるすべての操作が記載されます。結果セットの監査証跡では、結果セットの各データに対して実行されたすべての操作が収集されます。

Autotune
オートチューニング
GC/MS 機器に対して、幅広い質量範囲にわたって機器の感度を最大にします。最大感度が要求され、従来のアバンダンス比を必要としないアプリケーションに対して、このチューニングを使用します。このチューニングはマニュアルチューニングの開始点にもなります。たとえば、GC/MS で PFTBA をチューニング化合物として使用する場合、チューニングする質量は m/z 69、219、および 502 となります。

Average calibration point
平均キャリブレーションポイント
データ解析で、曲線上の特定のキャリブレーションレベルのすべてのキャリブレーションポイントの平均。

 

B

Baseline at valleys
ベースライン(谷から谷)
データ解析で、インテグレータがピーク間のすべての谷でベースラインをリセットする、その両端のポイント(ON/OFF)の時間を指定する積分イベントです。この機能は、広くて低いピークに複数のピークが乗っている場合に、ベースラインをすべての谷のポイントでリセットしたいときに役立ちます。

Baseline backwards
ベースライン(後方へ)
データ解析で、時間を指定する積分イベントです。標準インテグレータは、ベースラインとして指定されたベースラインポイントからこの時間まで、水平に後方にベースラインを伸ばします。

Baseline correction
ベースライン補正
データ解析での、積分中に、ピークの開始と終了でクロマトグラフベースラインを設定します。

Baseline correction mode
ベースライン補正モード
データ解析で、時間を指定する積分イベント。ベースライン補正タイプは[アドバンスド]、[クラシカル]、または[クラシカル(負ピークなし)]に設定します。

Baseline hold
ベースラインホールド
データ解析で、ベースラインホールドイベントがスイッチオンされる場所からベースラインホールドイベントがスイッチオフされる場所まで、設定されたベースラインの高さで水平ベースラインを描く時間を指定する積分イベントです。

Baseline next valley
ベースライン(次の谷へ)
データ解析で、インテグレータがピーク間の次の谷でベースラインをリセットした後、この機能を自動的にキャンセルするポイントとなる時間を指定する積分イベントです。この機能は、上に乗っている、または互いに近い位置で分離した固まりになっていると思われる重なりあったピークグループに対して役立ちます。

Baseline now
ベースライン(今すぐ)
シグナルがピーク状態である場合に、インテグレータがベースラインを現在のデータポイントの高さにリセットするポイント(時間)を設定する積分イベントです。シグナルがベースライン上にある場合、この機能は無視され、検出されたベースラインが使用されます。

Baseline penetration
ベースライン落ち込み
データ解析で、積分中にシグナルが設定されたベースラインより下まで落ちる状況。

BFBBromofluorobenzene(ブロモフルオロベンゼン)。揮発性化合物の分析(EPA メソッド 624)用のチューニングリファレンス化合物として使用されます。

Blank
ブランク
適切な溶媒のみからなるサンプル。通常は他のサンプルタイプと同じ抽出および準備手順の対象となりません。このサンプルタイプは、シーケンスバッチ中のサンプルの間で、前のサンプルによる残留汚染を検査して評価したり、別のサンプルの注入前にシステムを洗い流すために使用できます。バッチシーケンス中のあらかじめ定められた位置またはランダムな位置に物理的にブランクサンプルを配置することで、ブランクを注入するタイミングを決定できます。

BNA compounds
BNA 化合物
有機溶媒を用いた抽出による分析用に準備される、塩基性/中性/酸性(base/neutral/acid、BNA)化合物。BNA 化合物は半揮発性(セミボラタイル)化合物とも呼ばれます。

Bracketing
ブラケット
結果セットを再解析する方法。サンプルの前後に注入されるキャリブレーションスタンダードによって、サンプルを定量するための検量線が作成されます。

Bubble
バブル
ピークエクスプローラ (バブルチャート)ダイアグラムにおいて、円形(バブル)で表示されるピークのこと。

BWidthSavitsky-Golay フィルターに使用するスムージングポイント数を設定します。Savitsky-Golay は FIR(Finite Interval Repeating)平滑化フィルタです。このフィルタは、ピーク面積とピーク X 軸値を保持しながら、データ歪曲を最小限に抑えます。各データポイントを、その前後の N ポイントで平均します。フィルタのスムージングポイントの数は N + N + 1 で、常に奇数です。

BWidth = (スムージングポイント数) * (ステップサイズ)

BWidth 設定の結果、フィルタのスムージングポイント数が5未満になると、5ポイントになるように設定値が自動的に増加されます。バンド幅を0に設定すると、スムージングフィルタは無視されます。BWidth が広いほど、データが滑らかになります。

 

C

Calibrated compound
キャリブレーション化合物
キャリブレーションテーブルが存在する化合物。

Calibrated range
キャリブレーション範囲
タイムグループ」を参照。

Calibration
キャリブレーション
データ解析で、既知の量の特定化合物に対する機器レスポンスを定義するプロセスです。結果として得られた検量線を使用して、未知濃度のサンプルに含まれるその化合物の量を定量します。

クロマトグラフィデータ用に測定される機器のレスポンスは、積分ピークの高さまたは面積です。非干渉(非溶出)化合物の混合物を使用して、1 つのキャリブレーションに含まれる多くの化合物のレスポンスを定義できます。キャリブレーションテーブルは、化合物のリテンションタイムとレスポンスファクタを保持します。

Calibration curve
検量線
1 つまたは複数のキャリブレーションサンプルから得られる濃度およびレスポンスデータのグラフ。検量線は、面積カウントが行われているときに、特定の化合物が、同じ機器条件下および内部標準の一定濃度の存在時に、異なる濃度に対してどのように反応するかを示します。信頼性の高い結果を得るには、検量線に少なくとも 2 つのレベルがあり、未知のサンプルで検出されると予想されるアマウントを括弧で囲む必要があります(ブラケットする必要があります)。

Calibration curve window
検量線ウィンドウ
データ解析で、フォーカスしたデータ(最後にハイライトしたデータ)の最後にハイライトした化合物に対して、検量線、個々のキャリブレーションポイント、平均キャリブレーションポイント、および式と統計情報を表示します。この検量線が、化合物のアマウントの計算に使用されます(結果の検量線)。

Calibration level
キャリブレーションレベル
データ解析での検量線上のポイントまたはポイントセット。これは、解析メソッド内のアマウントとそれに対するレスポンスによって決まります。シングルレベルキャリブレーションでは、キャリブレーションレベル番号は常に1になります。信頼性の高い定量結果を得るには、検量線に少なくとも2つのレベルがなければなりません。これを、マルチレベルキャリブレーションといいます。

Calibration point
キャリブレーションポイント
データ解析で、1つのキャリブレーションサンプルを解析するとキャリブレーションポイントが 1 つ追加されます。同じレベルに複数の標準がある場合、平均ポイントが自動的に計算されます。

Calibration standard
キャリブレーションサンプル
データ解析で、定量する化合物の既知のアマウントを含むサンプル。ソフトウェアでは、キャリブレーション標準バイアルからの注入をキャリブレーションサンプルと呼びます。

Calibration table
キャリブレーションテーブル
データ解析で、濃度別に異なる化合物のレスポンスを定義する多次元マトリックスのことです。

レスポンス = f(アマウント)、またはアマウント =f(レスポンス)

キャリブレーションテーブルに含まれる化合物のアマウント情報とレスポンス情報をグラフ表示したものです。

CDSクロマトグラフィデータシステム。クロマトグラフィ検出器によって得られたクロマトグラフィの結果を収集および分析するクロマトグラフィソフトウェア。

Chromatogram
クロマトグラム
選択した検出器シグナルおよび機器カーブが、選択したレイアウトで表示されます。

質量分析で、MSD システムによって生成されるクロマトグラムは、分析中にそれぞれの時間ポイント(スキャン)で生成されるイオンアバンダンスのプロットです。表示される可能性があるクロマトグラムには、TIC(トータルイオンクロマトグラム)と EIC(抽出イオンクロマトグラム)の 2 つのタイプがあります。

CI mode
CI モード
質量分析で、MSD の化学イオン化設定を示します。これには、化学イオン化イオン源、流量コントローラ、インターフェイス部分、ユーザーが提供する試薬ガスが含まれます。

Classical (no penetrations) baseline correction
クラシカル(負ピークなし)ベースライン補正
データ解析で、インテグレータがベースラインを再構築することによってベースライン落ち込みを除去するベースライン補正方法です。

Classical baseline correction
クラシカルベースライン補正
データ解析で、インテグレータがベースライン落ち込みを受け入れるベースライン補正方法です。

Compound
化合物
化合物は、マルチシグナルキャリブレーションの場合は複数のピークから構成されることがありますが、通常はシグナルごとに 1 つです。シングルシグナルキャリブレーションでは、化合物は 1 つのピークを参照します。

Compound table
化合物テーブル
データ解析で、解析した化合物の名前とリテンションタイムを指定するメソッドの一部。

Concentration
濃度
データ解析で、各化合物に対して計算されます。式は、解析メソッドの設定に応じて次のいずれかになります。

濃度 = アマウント * 倍率 * 希釈率
または
濃度 = アマウント * 倍率 / 希釈率

Contextual tab
コンテキストタブ
1 つ以上のリボンタブを含むタブ。リボンタブを含むコンテキストタブは、任意のユーザーインターフェイス要素またはオブジェクトが選択されている場合にのみ表示されます。選択した要素またはオブジェクトにのみ関連する機能もあります。

Curve fits
検量線モデル
OpenLab CDS は、さまざまなモデルに従って検量線を計算することができます。以下のモデルがサポートされています。直線、二次曲線、対数、指数、および Log/Log。キャリブレーション済みのそれぞれの化合物に検量線モデルを個別に設定することができます。化合物ごとにさまざまな方法でグラフの原点(0, 0)を処理することもできます。

 

D

Data Processing view
データ解析ビュー
データ解析のメインビューで、データの処理(シグナルと結果のレビュー、マニュアル積分の実施など)に使用されます。

Data Selection view
データ選択ビュー
アプリケーションの起動時に表示される、データ解析のデフォルトビュー。このビューにより、プロジェクトのデータフォルダーを参照し、レビューまたは解析するデータを選択できます。

Delta EMV
デルタ EMV
質量分析でのチューニングファイルのエレクトロンマルチプライア電圧(EMV)に対するエレクトロンマルチプライア電圧の相対変化。(デルタ EMV とチューニング EMV を合計した)EMV の許容範囲は、 0 V から 3000 V です。入力した値は最も近いステップサイズに自動的に調整されます。

DFTPPDecafluorotriphenylphosphine。質量分析で、半揮発性(セミボラタイル)化合物分析(EPA メソッド 625)用のチューニングリファレンス化合物として使用されます。これは、GC/MS でのみ使用し、US EPA メソッド専用です。

Dilution factor
希釈率
レポート生成される前に計算結果に適用されるスケールファクタ。希釈率は、サンプル準備中に発生するサンプルボリュームの変化を補うために使用できます。希釈率は 5 つまで注入リストで定義できます。

Docking area
固定エリア
ワークスペース」を参照。

Downslope
ダウンスロープ
データ解析で、ピークのトレーリングエッジ。これは、シグナルの強度が低下する箇所です。

Drop line
ドロップライン
データ解析の積分で、最初のピークの開始点から 2 つ目のピークの終了点までベースラインを描き、その谷からベースラインまでを垂直に落とすことによって、分離できない 2 つのピークを分割する方法。

Dwell time
ドゥエルタイム
質量分析での、サンプル数と積分時間の積。測定でシグナルを増加するのに固定積分時間 253 µs が SIM データに対して使用され、整数で設定されているチューニングファイル値は無視されます。このため、SIM アバンダンスおよび飽和レベルは、スキャンモードやチューニングのプロファイルスキャンのアバンダンスおよび飽和レベルと異なる場合があります。この差は、チューニングファイルの積分時間と 253 µs の SIM 積分時間の比におおむね対応しています。

Dynamic ramping
ダイナミックランプ
質量分析で、質量ごとに異なる電圧を設定して、目的の質量範囲全体にわたってシグナルを最適化することを可能にします。これに対し、SIM ランプは、特定の電圧での 1 つのチューニング質量のシグナルの最適化を行います。

 

E

ECMEnterprise Content Management。ドキュメントやプロセスに関連したその他のコンテンツを整理および保存するためのソフトウェア。コラボレーションやコンテンツの再使用、アーカイブツールおよびその他のコンテンツサービスが含まれます。

ELNElectronic Lab Notebook。紙ベースの記録の代わりになるように設計された、実験中心のソフトウェア。実験室内の分析者間で情報を整理および共有するためのツールを提供しています。ELN は特定のアプリケーションやデータをサポートしており、一般的な ELN はすべてのデータおよび形式をサポートしています。

EM Saver
EM セーバー
GC/MS 機器で、化合物の検量線の上位レンジにおいて、検出器の非線形応答を防ぐために使用されます。非線形応答が起きる原因としては、高イオン濃度の化合物に対してゲイン値またはドゥエルタイムを高く設定しすぎたことが考えられます。EM セーバーを使用すると、EM を飽和させずに高いゲイン値とドゥエルタイムを使用できるようになります。

EM セーバーは、シングル四重極コンフィグレーションでは SIM モードと共に使用されます。EM セーバーを使用することのメリットは、検出器の応答に一貫性をもたせ、EM の寿命を延ばせることです。

Emission
エミッション
GC/MS 機器の MSD では、フィラメントのエミッション電流は設定可能ですが、最適値としてデフォルト設定を使用することをお勧めします。電流を上げるほど、放出される電子の数が多くなります。エミッション電流を低く設定すると、イオン化が少なくなり、感度の減少につながる場合があります。高く設定すると、サンプルの開裂が多くなり、フィラメントの消耗が速くなります。

最小値:0
最大値:410
ステップサイズ: 1

EMVolts (EMV)
EM 電圧 (EMV)
質量分析で、エレクトロンマルチプライア(検出器の一部)の電圧を設定します。この電圧を上げると、シグナル感度が増大します。EM 電圧を上げると、マススペクトロメータから出力されるシグナルの上昇によりアバンダンスも増加します。EM電圧が上昇すると、エレクトロンマルチプライアの寿命が短くなります。マルチプライアは、適切な感度を達成しうる最低の電圧で稼動してください。

GC/MS 機器でマルチプライアの寿命を延ばすには、溶媒のピークが過ぎるまで、マルチプライア(およびその他すべての電圧)の電源をオフにします(0 ボルト)。(溶媒待ち時間を指定すると、溶媒待ち時間が終了するまでこれらの電圧はオフになります)。これと同じ理由で、高濃度サンプルを分析している場合や CI モードを実行している場合は EM 電圧の値を下げてください。

EntLens
エントランスレンズ
エントランスレンズのゲイン。この値は、エントランスレンズに適用される質量に依存する電圧を決定するために使用されます。エントランスレンズは、イオンがマスフィルターに入る前に通過する最後のレンズです。
通常、エントランスレンズの電圧は、最大アバンダンスを実現する設定値を見つけるために、チューニング時に一定の割合で増減されます。

最小値:-200
最大値:200
ステップサイズ: 0.1

Expected retention time
予測リテンションタイム
データ解析で、ピークが溶出すると予測される時間。これは、ピーク同定テーブルでのピークのリテンションタイムです。設定してある場合、タイムリファレンスピークにより補正されています。

Exponential tangent skim
指数曲線タンジェントスキム
データ解析で、子ピークの最も高い開始点から、子ピークの終了点までに指数曲線を描く積分手順です。

External standard (ESTD) quantitation
絶対検量線法(ESTD)定量
未知のレスポンスを、同じ条件下で分析された 1 つまたは複数のキャリブレーションサンプルのレスポンスと比較する基本的な定量手順です。

Extracted Ion Chromatogram (EIC)
抽出イオンクロマトグラム(EIC)
質量分析で、スキャンモードまたは SIM モードで取り込まれたデータからの特定の質量または質量範囲のトレース。

 

F

Focused injection
フォーカスしたデータ
データ解析で、データツリーで最後にハイライトしたデータのこと。ピンの状態(ピン留めされているか、ピン留めされていないか)は関係ありません。

Front Peak skim height ratio
フロントピークスキム高さ比
データ解析で、スキム谷比と併せて、溶媒またはその他の大きなピークのフロント上の小さなピークのタンジェントスキムの条件を設定する初期積分イベント。ベースライン補正された親ピークの高さと、ベースライン補正された子ピークの高さの比率です。

 

G

GAIN
ゲイン
質量分析で、エレクトロンマルチプライア(EM)に電圧が印加されたときに流れる微少な電流が、より大きく定量可能な電流に増幅される度合いのことです。

Gain Factor
ゲイン係数
質量分析で、 EM ゲイン係数は検出器のシグナル感度を調整します。EM ゲイン係数には、マルチプライアの経過年数が増えても一定レベルを維持できるという利点があります。したがって、ゲイン係数を使用すると機器のシグナル再生可能性が著しく向上し、機器間の一貫性が改善されます。

ゲイン係数 1.0 は、シグナルが検出器によって 100,000 倍増幅(ゲイン)されることを表します。ゲイン係数が高いほどシグナル感度が増大しますが、EM の寿命が短くなる可能性もあります。また、ゲイン係数が高い場合、検量線の範囲上部で非線形応答が生じる可能性があります。必要な検出限界を実現できる最小のゲインを使用することをお勧めします。

シングル四重極の場合のゲイン係数の設定範囲は、0.3 ~ 25 です。

ゲイン係数と EM 電圧の関係はチューニングファイルに保存され、チューニング時に更新されます。

Graph
グラフ
x 軸および y 軸を持つ図のことです。シグナルグラフでは、リテンションタイムに対するシグナルのレスポンスがプロットされます。重ね書きグラフでは複数のシグナルが表示されます。

 

H

Height percent (Height %)
高さ%
データ解析で、各ピークの高さを分析内のすべてのピークの高さのトータルに対するパーセントとして計算します。

Height reject
高さリジェクト
データ解析で、目的ピークの最小面積を設定する初期積分イベントです。ベースライン補正後に、この高さリジェクト値より小さいピークはリジェクトされます。

 

I

Initial events
初期イベント
データ解析で、積分の開始時に適用される積分イベントです。初期イベントの値は、タイムイベントによって変更されるまで使用されます。

Injection list
注入リスト
データ解析で、関連付けられたシーケンス、サンプル、および注入関連の情報と共にデータを表示するテーブル。

Injection results
注入結果
データ解析で、1 つ以上のシグナルの積分、定量化、その他のピークおよび化合物結果を表示するテーブル。

Integration
積分
データ解析で、クロマトグラムのピークの面積を求めるプロセスのことです。このプロセスには、ピークの座標(開始点、頂点、および終了点)の決定も伴います。

Integration event
積分イベント
データ解析で、積分条件を定義するパラメータです。積分イベントには、分析の開始時に適用される初期イベントと、分析中の指定した時間に適用されるタイムイベントの 2 種類があります。

Integration on/off
積分 オン/オフ
データ解析で、積分の停止と開始を行う時間を設定する積分イベントです。インテグレータがオフになってからオンになるまでの間のピークは無視されます。この機能は、クロマトグラムの一部を無視する、またはベースライン変動を解消するのに便利です。

Integration wheel
積分ホイール
データ解析で、マニュアル積分のためのツールで、マウスをベースラインポイントに近づけると表示されます。これにより、そのベースラインポイントで使用可能なオプションを簡単に選択できます。

Internal standard
内部標準
サンプルを準備してから分析を行う前に、すべての標準、ブランク、マトリックススパイク、マトリックススパイク複製、未知のサンプルに追加される化合物。内部標準は正確な既知の濃度で追加されます。これは、ターゲット化合物に対する相対レスポンスファクタを計算するときに必要となります。

内部標準は化学的にもリテンションタイムに関してもターゲット化合物と類似している必要があります。ただし、リテンションタイム、またはイオン(質量分析を行う場合)によって区別できるものでなければなりません。

Ion focus
イオンフォーカス
イオンフォーカスレンズ(イオン源の一部)の電圧を設定します。イオンフォーカスはイオンのアバンダンスに影響を与えます。通常、このオフセット値は、イオンの最大アバンダンスを実現するイオンフォーカスオフセット値を見つけるために、チューニング時に一定の割合で増減(ランピング)されます。

最小値:0
最大値:242
ステップサイズ: 0.95

ISTD内部標準」を参照。

ISTD amount
ISTD アマウント
内部標準レポートの計算式を使用する場合の、サンプルに追加される内部標準物質量です。

 

L

Layout
レイアウト
表示するウィンドウと、ウィンドウの配置方法を定義します。レイアウトは、ユーザーごとに設定することができ、変更は自動で保存されます。ユーザーはアプリケーションの特定のビューでさまざまなレイアウトの切り替えを行うことができます。

Legend
凡例
表示されたデータ内容について説明するグラフの一部(シグナル名、サンプル名など)。

LIMSLaboratory Information Management System。サンプルのバッチに関連した階層データを管理するためのサンプル中心のソフトウェアで、規制機関や科学研究員のレポートおよび監査のニーズに対応しています。

Lock compound
ロック化合物
すべてのリテンションタイムロックのキャリブレーションおよびロックファイルで、数値を求めるのに使用するピークの化合物。

Lock pressure
ロック圧力
RTL ロックファイルの測定圧力と測定リテンションタイムから作成された検量線を使用して、ロックリテンションタイムに対応して決定される圧力。

Lock retention time
ロックリテンションタイム
ロック化合物のリテンションタイム。

 

M

Mass Offset
マスオフセット
マス軸オフセットの値を設定します。マス軸オフセットは、マス軸を較正する等式で使用される加算係数です。

最小値:-499
最大値:499
ステップサイズ: 1.

Mass Spectrum
マススペクトル
選択したリテンションタイムの化合物中で検出されたすべてのイオンのアバンダンスおよび質量をプロファイルします。棒グラフや、MS ピークテーブルを使用したテーブル形式で表示できます。

Matrix
マトリックス
分析するサンプル内の主要物質。環境サンプルでは、通常、水または土壌がマトリックスになります。薬物サンプルでは、通常、尿または血液がマトリックスになります。

Method
メソッド
測定メソッド(.amx ファイル)には、データ測定用の機器固有のパラメータが含まれます。

解析メソッド(.pmx ファイル)はデータ解析で使用します。メソッドには、データ解析と結果の作成に必要な情報とパラメータが含まれています。

サンプルプレップメソッド(.smx ファイル)には、放出速度や特殊ニードル洗浄設定など、サンプラのコンテキストでのパラメータが含まれます。

Method calibration curve
メソッド検量線
データ解析で、解析メソッドとともに保存される化合物の検量線です。メソッド検量線はキャリブレーションスタンダードが解析された際に作成/更新されます。

Method parameters
メソッドパラメータ
ユーザーによってメソッドユーザーインターフェイスに入力されるすべての値を表す一般用語です。メソッド説明のような単純な値から、アルゴリズムの処理(解析メソッドの化合物のアマウントなど)や機器(測定メソッドの機器の設定など)を定義する、複雑なパラメータに至るまでのあらゆる値を含みます。

Method selector
メソッドセレクタ
データ解析での [データ解析]ビューのナビゲーションウィンドウ内にあるセクション。[メソッド選択]では、作業する解析メソッドを選択できます。

Multiplier
倍率
レポート生成される前に計算結果に適用されるスケールファクタ。倍率は、サンプル準備中に発生するサンプルボリュームの変化を補うためによく使用されます。倍率は 5 つまで注入リストで定義できます。

m/z質量分析で、マススペクトロメータで生成されるイオンフラグメントのサイズを報告するのに使用される単位を表します。イオンの質量をその電荷(通常は+1)で除算することによって得られます。

 

N

Named group
グループ(ネームグループ)
同定された化合物とタイムグループのグループ。グループアマウントは個々の化合物およびタイムグループのアマウントの合計です。

Navigation pane
ナビゲーションウィンドウ
データ解析でのアプリケーション左側のエリアのことです。ナビゲーションウィンドウは、タイトルバー、追加セクションが含まれる可能性のあるナビゲーションツリー、およびビュー選択ボタンから構成されています。ナビゲーションツリーのレイアウトと目的は、選択したビューによって異なります。

Navigation tree
ナビゲーションツリー
ナビゲーションに対する一般用語で、すべてのオブジェクトを階層ツリーで表示したもののことです。オブジェクトがデータを示す場合は、データツリーとなります。

Nested baseline
ネストベースライン
データ解析でのネストピークのベースライン。

Nested peak
ネストピーク
データ解析で、ライダーピーク、スキムピーク、子ピークとも言われるもの。

New Exponential tangent skim
新モードの指数曲線タンジェントスキム
データ解析で、親ピークのトレーリングエッジを概算する指数曲線を描く積分手順。

Norm%データ解析で、各ピークの結果を分析内のすべてのピークのトータルアマウントに対するパーセントとして計算する前に、レスポンスファクタを適用してアマウントを計算します。

 

P

Peak baseline
ピークベースライン
データ解析で、ピークの開始点からピークの終了点まで引かれて、ピークの下限を定義する線。ピーク面積は、ベースラインより上の面積として計算されます。

Peak identification
ピーク同定
データ解析で、予測化合物のテーブルを使用して、測定したシグナルのクロマトグラムのピークを特定するプロセスです。

Peak shoulder
ピークショルダー
データ解析でのショルダーは、2 つのピークが非常に近接し、間に谷が存在しないけれども、明らかに分離されていないピークである場合に発生します。ショルダーは、ピークのリーディングエッジ(前)か、ピークのトレーリングエッジ(後ろ)に発生します。ショルダーが検出されると、タンジェントスキムかドロップラインのいずれかによって積分されます。

Peak slope
ピークスロープ
データ解析で、時間に対して化合物濃度がどのように変化するかを表す変化率(スロープ)です。ピークの開始、ピークトップ、ピークの終了を判別するのに使用されます。

Peak tailing
ピークテーリング
データ解析で、テーリングエッジ側の頂点からベースラインまでの時間がリーディングエッジ側のベースラインから頂点までの時間よりも大きいような非対称なピーク形状のこと。

Peak width
ピーク幅
データ解析で、カラム内のバンド幅です。溶質がカラム内に長く留まるほど大きくなります。ピーク幅は、ピーク高さの複数個所に対して観測されます。

初期積分イベントで、ピークの半分の高さにおけるピークの最小幅(分)を定義することで、実際のピークをベースラインノイズから区別することができます。

積分のタイムイベントとして、ピーク幅の設定を指定します。[自動]はピーク幅の自動更新をオンにします。[固定]はピーク幅を指定の値に設定してピーク幅の自動更新を無効にします。

Peak-to-valley ratio
ピークバレー比
データ解析で、ドロップラインまたは谷ベースラインを使用して、ベースラインが分離していない 2 つのピークを分離させる時間を指定する積分イベントです。これは、ベースライン補正した谷の高さに対する、ベースライン補正した小さいピークの高さの比になります。ピークバレー比がユーザーの指定した値より小さい場合は、ドロップラインが使用されます。それ以外の場合は、最初のピークの開始点から谷へ、および谷から 2 番目のピークの終了点にベースラインが引かれます。

PFTBAPerfluorotributylamine。すべての GC/MS オートチューニング用のチューニング化合物として使用されます。m/z 31、50、69、100、131、219、264、414、464、502、576、および 614 のイオンがあります。

Pinned injection
固定データ(ピン留めされた注入データ)
データ解析で、データツリー内でピンを垂直に差して固定してあるデータ。

Processing
解析
データ解析で、結果を計算するためにデータにメソッドパラメータを適用すること。「再解析」も参照。

 

Q

Quantitation
定量
データ解析で、未知サンプル内の化合物の濃度を判別する処理のことで、その化合物の既知の数量を含むキャリブレーションサンプルのレスポンスから作成した検量線を使用して判別するプロセスです。

QuickTune
クイックチューニング
質量分析で、許容可能なレスポンスや分解能、正確な質量割り当てを確保するために微調整を行います。マス軸、ピーク幅、EM 電圧のみが調整されます。レンズには影響がありません。

3つのチューニング質量の相対アバンダンスは調整しません。相対アバンダンスが、許容値にある (つまり、機器がすでにほぼチューニングされている) 間は、日常のチューニングの方法としては、クイックチューニングを優先的に使用してください。

 

Recalibration
再キャリブレーション
データ解析で、キャリブレーションサンプルの新しいデータに基づいて、キャリブレーションテーブル内のキャリブレーション情報(レスポンスおよびリテンション/マイグレーションタイム)を更新するプロセス。再キャリブレーションはいつでも実行でき、キャリブレーション情報の更新に既存のキャリブレーションデータを含めるかどうかは選択できます。

Recognize negative peaks
ネガティブピーク検出
データ解析で、インテグレータがネガティブピークを検出する範囲(ON/OFF)ポイントの時間を設定する積分イベントです。これにより、インテグレータは、ベースラインが負に落ち込んだ場合も、ベースラインの自動リセットを行わなくなります。

Reference spectrum
リファレンス スペクトル
化合物の同定を確認するために使用される UV または MS スペクトル。

Relative response factor
相対レスポンスファクタ
データ解析での化合物の相対レスポンスファクタは、他の化合物(一般に、有名でそのレスポンスファクタが広く知られている化合物)に対する相対的なレスポンス値です。キャリブレーションサンプルが利用できないときに、この相対レスポンス値が使用されます。一般に ISTD キャリブレーションと併用されます。

Relative retention time
相対リテンションタイム
データ解析で、微量成分を同定するには、多くの調整方法を指定する必要があります。相対リテンションタイムは、メインリファレンスピークに対する相対値として計算されます。

Report heading
レポートヘッダー
新しく作成したレポートテンプレートの上端にデフォルトで表示されるテキスト。ここに表示されるテキストは、レポートの上端にも表示されます。

Reporting view
レポートビュー
データに対するレポートを作成データ解析のビュー。レポートビューではプレビュー、印刷、エクスポートが可能です。テンプレートを編集する権限があれば、レポートテンプレートエディタもこのビューに表示されます。

Reprocessing
再解析
データ解析で、最初の解析を行ったあとに、再度解析を行うことです。

Response
レスポンス
データ解析で、検出器から与えられたシグナルの大きさのことです。レスポンスは、最も大きい強度でのシグナルの高さか、またはベースラインより上のシグナルの面積として測定できます。

Response factor
レスポンスファクタ
データ解析で、化合物の濃度に対するレスポンスの比率(シグナルの高さまたは面積のいずれかの大きさ)。
レスポンスファクタ = レスポンス / アマウント

または、レスポンスに対する濃度の比率:
レスポンスファクタ = アマウント / レスポンス

Response update
レスポンス更新
キャリブレーションで、キャリブレーションサンプルの新しいデータに基づいて分析対象物のレスポンスファクタを再計算します。

Result calibration curve
結果の検量線
データ解析で、個々の注入や注入シーケンスの結果の一部として保存される、メソッド検量線のコピーです。

Result set
結果セット
結果セットには、実行済みのシーケンスの結果が含まれています。この結果は、生データ、測定メソッド、データ解析メソッド、結果、および使用されているレポートテンプレートで構成されます。

Retention time locking (RTL)
リテンションタイムロック(RTL)
リテンションタイムとは、クロマトグラフィの基本的な定性測定で、標準と比較することで化合物の同定を実行できます。カラムのカット、流量設定、オーブンパラメータなどの変更をクロマトグラフィシステムに加えると、対象化合物のリテンションタイムに影響を与えることがあります。

リテンションタイムロックは、これらのパラメータがリテンションタイムに与え得る影響を評価して最小にするための手順です。

Ribbon
リボン
アプリケーションウィンドウの上部に常に表示されるツールバー要素です。アプリケーションツールバーとクラシックメニューが組み合わさっています。リボンには 2 種類のタブがあります。1 つは常に表示されるタイプ([ホーム]など)で、これにより、アプリケーションで選択したオブジェクトやウィンドウからは独立した機能にアクセスできます。2 つ目のタイプは、アプリケーション内で特定の項目が選択されている場合にのみ表示されます。

Ribbon group
リボングループ
リボンタブでグループ化されたユーザーインターフェイスの項目。

Ribbon tab
リボンタブ
リボンで分類別に分けられたアプリケーション項目。一度に表示されるタブは 1 つだけです。

RTEレポートテンプレートエディタ。

RTL Calibration files
RTL キャリブレーションファイル
異なる圧力(-20%、-10%、公称、+10%、+20%)で収集された 5 つのデータファイル。

RTL Lock file
RTL ロックファイル
ロックを設定するために使用されるデータファイル。このファイルにおいて、ロック化合物の実際のリテンションタイムとファイルを収集するのに使用された圧力が、検量線とロックリテンションタイムに対して比較され、ロック圧力が決定されます。

Run type
タイプ
キャリブレーションサンプルを解析する前に、既存のキャリブレーションポイントを保存するか、または消去するかを指定します。タイプが すべてのキャリブレーションをクリアの場合、すべてのキャリブレーションポイントは標準の解析前に削除されます。タイプが このレベルのキャリブレーションをクリア の場合、現在のキャリブレーションレベルのキャリブレーションポイントのみが削除されます。タイプは、測定(シーケンステーブル)または データ解析(データリスト)で定義します。

 

S

Sample amount
サンプルアマウント
そのバイアルでのサンプルの合計アマウント。

Sample information
サンプル情報
選択したデータに関する情報です。シーケンス、サンプル、データの情報が含まれます。分析の設定時にユーザーが入力するか(サンプル名など)、システムによって生成されます(測定日時など)。

Sample name
サンプル名
データファイル内およびレポート内でサンプルを識別するのに使用されます。サンプルに対してユーザーが入力する名前です(1 ~ 16 文字)。

Sample type
サンプルタイプ
サンプルタイプによって、サンプルが解析用サンプルか、キャリブレーションサンプルか、またはブランクかを指定します。

Scan mode
スキャンモード
検出器で質量範囲全体にわたって上限から下限までのスキャンを行うデータ測定テクニック。1 つのスキャンが完了すると、システムはリセットされ、再度指定された質量範囲がスキャンされます。

GC/MS 機器では、このプロセスは MSD がオフになっているときの分析開始時の溶媒待ち時間を除いて、分析中に連続的に繰り返されます。

LC/MS 機器では、スキャンは、メソッドの一部としてオン、オフされます。機器のパフォーマンスに悪影響を与え得る塩などのコンポーネントが溶出する場合、LC 溶液を廃液に切り替えてください。

SDMSScientific Data Management System。機器データやその他のドキュメントを含めて、ファイルやメタデータを整理するためのデータ中心のソフトウェア。

Semivolatile compounds
半揮発性(セミボラタイル)化合物
有機溶媒で抽出して分析用に準備できる化合物。半揮発性化合物は塩基性/中性/酸性 (base/neutral/acid、BNA) 化合物とも呼ばれます。

Sequence
シーケンス
複数のサンプルを分析するための情報が含まれます。この情報はシーケンステーブルに入力され、シーケンステーブルでは注入ごとにラインが存在する必要があります。シーケンスはディスク上に保存され、別のバッチ用として再度呼び出すことができます。

Signal
シグナル
分析全体を通じて、検出器が測定した時間に対するレスポンスのこと。検出器に複数シグナルの測定が設定できる場合(ダイオードアレイ、多波長検出器など)、各レスポンスは別シグナルとみなされます。

Signal selector
シグナルセレクター
データ解析の[データ解析]ビューのナビゲーションウィンドウのセクション。[シグナルの選択]では、表示するシグナルを選択できます。

SIM mode
SIM モード
選択イオンモニタリングモード。質量分析で、最大感度を得るために少数の選択された m/z 値をモニタするデータ測定法です。

Single sample
シングルサンプル
結果セットに含まれないすべての分析です。たとえば、シングルサンプル分析パネルを介して作成されます。

Skim valley ratio
スキム谷比
データ解析で、テールまたはフロントスキム高さ比と併せて、溶媒またはその他の大きなピークのテールまたはフロント上の小さなピークのタンジェントスキムの条件を設定する初期積分イベント。ベースライン補正された子ピークの高さと、ベースライン補正された谷の高さの比率です。

Slope
スロープ
データ解析でのパラメータの変化率。シグナルの場合、スロープは化合物濃度の変化率を示します。

Slope sensitivity
スロープ感度
データ解析で、積分中のピークの開始ポイントと終了ポイントの識別に使用されるシグナルスロープの値を設定する積分イベント。

Solvent delay
溶媒待ち時間
GC/MS 機器で、分析を開始してからマススペクトロメータがオンになるまでの時間(分単位)。溶媒ピークがカラムから溶出されて MS を通過するまで、MS をオフにしておく必要があります。25 メートルのキャピラリカラムの場合、通常は2分間の溶媒待ち時間があれば十分です。

Solvent peak
溶媒ピーク
GC での溶媒ピークは、分析する必要のない非常に大きいピークで、通常、積分しません。ただし、分析対象の小さいピークが溶媒ピークの近くにある場合、たとえば溶媒ピークのテール部にある場合などは、特別な積分条件を設定することにより、溶媒ピークのテールによる影響を補正してその面積を計算できます。

Split peak
ピークの分割
データ解析で、ドロップラインでピークを分割する時間を指定する積分イベントです。最も近い谷または特定ポイントでピークを分割できます。

Standard
スタンダード(標準)
定量キャリブレーションを行うために使用される、既知量のターゲット化合物および内部標準を含むサンプル。キャリブレーションサンプルまたはキャリブレーションスタンダードとも呼ばれます。

Standard tangent skim
標準タンジェントスキム
指数曲線と直線の計算を組み合わせるて、親ピークと子ピークに最適化する積分手順です。

Surrogate
サロゲート
サンプルを準備する前に、すべての標準、ブランク、マトリックススパイク、マトリックススパイク複製、未知のサンプルに追加される化合物です。サロゲートは正確な既知の濃度で追加されます。サンプル準備プロセスの効率を決定するために使用されます。サロゲートは、ターゲット化合物化学プロパティに類似した化学プロパティを持っている必要がありますが、実際のサンプルマトリックスには含めません。多くの場合は、重水素化合物がサロゲート化合物として使用されます。サロゲートはシステムモニタリング化合物と呼ばれることもあります。

 

T

Tail peak skim height ratio
テールピークスキム高さ比
データ解析で、スキム谷比と併せて、溶媒またはその他の大きなピークのテール上の小さなピークのタンジェントスキムの条件を設定する初期積分イベント。ベースライン補正された親ピークの高さと、ベースライン補正された子ピークの高さの比率です。

Tail tangent skim
タンジェントスキム(テール)
データ解析で、次のピークのトレーリングエッジ上でタンジェントスキム(ON/OFF)を発生させる時間を指定する積分イベントです。そのピークは溶媒ピークとみなされます。

Tangent skim mode
タンジェントスキムモード
データ解析で、タンジェントスキムのタイプを指数、新しい指数、標準、直線のいずれかに設定する積分イベント。

Tangent skimming
タンジェントスキム
データ解析で、メインピークのスロープを近似する直線または指数曲線タンジェントを作成することによって、ピークショルダーを積分する手順です。

Target compound
ターゲット化合物
環境分析プロトコルによって分析用に指定された化合物です。

Target ion
ターゲットイオン
質量分析で、ターゲット化合物は、イオン特性を持ち、この化合物を類似のリテンションタイムを持つ他の化合物と区別できるものが理想的です。このイオンに対する抽出イオンクロマトグラムまたは SIM イオンが定量に使用されます。

TICトータルイオンクロマトグラム。質量分析では、Y 軸は、各スキャンのすべてのイオンアバンダンスの合計になります。TIC は、最初にデータファイルを読み込んだときにデータ解析ウィンドウに表示されます。ポジティブ、ネガティブモードまたは複数のフラグメンタモードで分析された LC/MS データの場合、複数の TIC がデータファイルごとに表示されます。

Time reference peak
タイムリファレンスピーク
データ解析で、リテンション/マイグレーションタイムの再現性のチェックに使用されるピーク。必要であれば、これを使用して、クロマトグラフの補正も行います。

Timed group
タイムグループ
時間範囲によって定義されるピークのグループです。グループには範囲内に存在する同定されたピーク(化合物)が含まれます。タイムグループはそれぞれのキャリブレーションパラメータに応じて定量化されます。タイムグループの各ピークはグループ RF で定量化できます。

Toolbar
ツールバー
リボンツールバーで使用可能なコマンドに加えて、各ウィンドウには固有のコマンドを備えた独自のツールバーがあります。

Trace Ion Detection (TID)
微量イオン検出(TID)
GC/MS 機器で、TID により、分析中にメソッド検出限界(MDL)の下限値を取得できます。これによりトータルイオンクロマトグラムおよび抽出イオンクロマトグラムに含まれるノイズが減少します。ノイズレベルが下がると、分析および標準のピーク高さやピーク面積を計算するためのベースラインがより再現しやすくなります。また TID により、複雑なクロマトグラムにおけるマニュアル積分を必要とするピーク数も減少します。

Tuning
チューニング
質量分析で、MSD の性能を最適化するプロセスです。チューニングの目的は、感度を最大限に高める一方で許容できる分解能を維持し、正確な質量割り当てを確実に行って、スペクトル全体で必要な相対アバンダンスを提供することです。

 

U

Unassigned peak
割り当てられないピーク
データ解析で、インテグレータが処理するエリアの中で、ベースラインとシグナルの間にあるが、通常のピークの開始点、終了点から外れているので、ピークとして割り当てない場合に、この範囲(ON/OFF)の時間を設定する積分イベントです。

Uncalibrated compound
キャリブレーションされていない化合物
同定はされているが、キャリブレーションテーブルが存在しない化合物。

Unknown
未知サンプル
定量する化合物を未知の濃度で含むサンプルを表します。

 

V

Valley baseline
谷ベースライン
積分で、最初のピークの開始点でベースラインから谷に向けて、および 2 つ目のピークの終了点で谷からベースラインに向けてベースラインを引くことにより、分離できないの 2 つのピークを分割する方法です。

View
ビュー
1 つのソフトウェアアプリケーション内で分割して表示される、複数の異なるユーザーインターフェイスのことです。ビューは、通常、左側に一つのナビゲーションの要素を共有しています。これにより、特定のビュー内のデータオブジェクトへのビューとナビゲーションを切り替えることができます。例:Microsoft Outlook - 以下のビューに分割されています。メール、予定表、タスクなど。扱われるデータオブジェクト/タスクは、通常ビューごとに異なります。

VOA compounds
VOA 化合物
パージ & トラップ法を使用する分析用に準備するボラタイル有機分析化合物。ボラタイル化合物またはパージ可能化合物とも呼ばれます。

 

W

Weighting mode
重み付けモード
検量線の式を計算するときにキャリブレーションポイントに重み付けを適用する方法。重み付けモードは、検量線でキャリブレーションされる各化合物またはタイムグループに対して、メソッド内で定義できます。

Workspace
ワークスペース
ユーザーインターフェイス内のエリアで、さまざまなウィンドウが表示されます。ワークスペースにはリボンおよびナビゲーションツリーは含まれません。