高分辨率取样

高分辨率采样结合了全切割 2D-LC 和多重中心切割模式的优点，支持在第一维中分析潜在的未分离峰，这些峰太宽而无法存储在单个样品定量环中。最多可以创建 10 个连续切片，宽度低至约 2 µL，相当于不到一秒的 ¹D 保留时间。

与中心切割模式相比，整个 ¹D 峰可以转移到第二维。这确保不会遗漏任何化合物，而且有助于精确定量。峰存储比中心切割更精确，因为切片的开始和结束都有明确的定义；另一方面，中心切割通过仅在切片结束时切换阀来确定切片。在多重中心切割中，使用带样品定量环的驻留仓位将第二维与第一维分离；这使第二维中出现长梯度和高分辨率。

与全切割模式相比，例如，连续切片可能需要 30 秒，高分辨率采样保留了 ¹D 分辨率。

多重进样

如果在多重进样模式下采集高分辨率数据，则随后将注入每个驻留阀的所有适用样品定量环的相应切片系列，然后在一个第二维分离中进行分析。因此，不是每个切片都有一个 ²D 色谱图，而是在每个多重进样系列中一起分析的所有切片只有一个 ²D 色谱图。也就是说，如果高分辨率系列使用两个驻留阀，这将产生两个 ²D 色谱图。

多重进样系列的单独切片显示在“采样表”中，并在 ¹D 色谱图中进行注释。但是，在第二维的“等高线图”和“诊断信号”窗口中，多重进样运行显示为一次切片运行。