用于覆盖序列中的 SIM 离子的规则 (LC/MS)

您可以通过在“序列”表中指定目标质量来覆盖方法中的 SIM 离子。可在 SQ:SIM 质量列中输入覆盖 SIM 离子。

被覆盖的 SIM 离子及其质量变化是由一组规则定义的。可使用类似于“xxx;xxx;xxx”的模式在“序列”表中输入一系列质量，其中“xxx”将替换为质量。此输入将由一组单独的规则进行验证。如果验证通过，质量覆盖将应用于 SIM 离子。

• 在初始方法中，SIM 离子首先按极性划分。然后，根据增益值对它们进行排序
• 每个质量覆盖都用一个正数（正极性）或一个负数（负极性）表示极性。
• 质量覆盖的目标质量是由分号 (";") 分隔的数字。
• 用于质量覆盖的 SIM 质量输入可以有一个或混合极性（例如，“101; - 201; 301”），它需要与初始方法中 SIM 离子的极性匹配。
• “序列”表中目标 SIM 离子的数量需要与初始方法中极性相同的每个增益值的 SIM 离子数量相匹配。
• 如果有多个时间段，质量覆盖仅适用于第一个时间段中的 SIM 离子。
• 如果该方法对于方法中极性相同的多个增益值具有不同数量的 SIM 离子，则该方法不支持质量覆盖。例如，如果增益 1 在方法中有 2 个 SIM 离子，则对于极性相同的增益 2 也应该有 2 个 SIM 离子来支持质量覆盖。

示例 1 - 简单示例

质量覆盖输入和初始方法

质量覆盖：101; -201

SIM 离子	增益	极性
SIM 1	0.1	+
SIM 2	0.1	-
SIM 3	1.1	+
SIM 4	1.1	-
SIM 5	2.2	+
SIM 6	2.2	-

按极性划分

正极离子覆盖：101

负极离子覆盖：201

SIM 离子	增益	极性
SIM 1	0.1	+
SIM 3	1.1	+
SIM 5	2.2	+
SIM 2	0.1	-
SIM 4	1.1	-
SIM 6	2.2	-

应用覆盖

SIM 离子	质量	增益	极性
SIM 1	101	0.1	+
SIM 3	101	1.1	+
SIM 5	101	2.2	+
SIM 2	201	0.1	-
SIM 4	201	1.1	-
SIM 6	201	2.2	-

示例 2 - 重复增益

质量覆盖输入和初始方法

质量覆盖：101; -201, 301

SIM 离子	增益	极性
SIM 1	0.1	+
SIM 2	2.2	-
SIM 3	1.1	-
SIM 4	0.1	+

按极性划分

正极离子覆盖：101; 301

负极离子覆盖：201

SIM 离子	增益	极性
SIM 1	0.1	+
SIM 4	0.1	+
SIM 3	1.1	-
SIM 2	2.2	-

应用覆盖

SIM 离子	质量	增益	极性
SIM 1	101	0.1	+
SIM 4	301	0.1	+
SIM 3	201	1.1	-
SIM 2	201	2.2	-

示例 3 - 错误

质量覆盖输入和初始方法

质量覆盖：101; -201, 301

SIM 离子	增益	极性
SIM 1	0.1	+
SIM 2	2.2	-
SIM 3	1.1	-
SIM 4	0.1	+

按极性划分

正极离子覆盖：101

负极离子覆盖：201

SIM 离子	增益	极性
SIM 1	0.1	+
SIM 4	0.1	+
SIM 3	1.1	-
SIM 2	2.2	-

应用覆盖

覆盖失败是因为该方法有两个正 SIM 离子，增益为 0.1，所以需要指定两个质量覆盖。

质量覆盖的数量必须与极性相同的每个唯一增益的 SIM 离子的数量相匹配。

另请参见

运行样品

运行序列 (LC/MS)