用于覆盖序列中的 SIM 离子的规则 (LC/MS)

要覆盖方法中的 SIM 离子,请在“序列”表中指定目标质量。在 SQ:SIM 质量列中输入覆盖 SIM 离子。

被覆盖的 SIM 离子及其质量变化是由一组规则定义的。使用类似于“xxx;xxx;xxx”的模式在“序列”表中输入一系列质量,其中“xxx”将替换为质量。此输入将由一组单独的规则进行验证。如果验证通过,质量覆盖将应用于 SIM 离子。

  • 在初始方法中,SIM 离子首先按极性划分。然后,根据增益值对它们进行排序

  • 每个质量覆盖都用一个正数(正极性)或一个负数(负极性)表示极性。

  • 质量覆盖的目标质量是由分号 (";") 分隔的数字。

  • 用于质量覆盖的 SIM 质量输入可以有一个或混合极性(例如,“101; - 201; 301”),它需要与初始方法中 SIM 离子的极性匹配。

  • “序列”表中目标 SIM 离子的数量需要与初始方法中极性相同的每个增益值的 SIM 离子数量相匹配。

  • 如果有多个时间段,质量覆盖仅适用于第一个时间段中的 SIM 离子。

  • 如果该方法对于方法中极性相同的多个增益值具有不同数量的 SIM 离子,则该方法不支持质量覆盖。例如,如果增益 1 在方法中有 2 个 SIM 离子,则对于极性相同的增益 2 也应该有 2 个 SIM 离子来支持质量覆盖。

示例 1 - 简单示例

质量覆盖输入和初始方法

质量覆盖:101; -201

SIM 离子

增益

极性

SIM 1

0.1

+

SIM 2

0.1

-

SIM 3

1.1

+

SIM 4

1.1

-

SIM 5

2.2

+

SIM 6

2.2

-

按极性划分

正极离子覆盖:101

负极离子覆盖:201

SIM 离子

增益

极性

SIM 1

0.1

+

SIM 3

1.1

+

SIM 5

2.2

+

SIM 2

0.1

-

SIM 4

1.1

-

SIM 6

2.2

-

应用覆盖

SIM 离子

质量

增益

极性

SIM 1

101

0.1

+

SIM 3

101

1.1

+

SIM 5

101

2.2

+

SIM 2

201

0.1

-

SIM 4

201

1.1

-

SIM 6

201

2.2

-

示例 2 - 重复增益

质量覆盖输入和初始方法

质量覆盖:101; -201, 301

SIM 离子

增益

极性

SIM 1

0.1

+

SIM 2

2.2

-

SIM 3

1.1

-

SIM 4

0.1

+

按极性划分

正极离子覆盖:101; 301

负极离子覆盖:201

SIM 离子

增益

极性

SIM 1

0.1

+

SIM 4

0.1

+

SIM 3

1.1

-

SIM 2

2.2

-

应用覆盖

SIM 离子

质量

增益

极性

SIM 1

101

0.1

+

SIM 4

301

0.1

+

SIM 3

201

1.1

-

SIM 2

201

2.2

-

示例 3 - 错误

质量覆盖输入和初始方法

质量覆盖:101; -201, 301

SIM 离子

增益

极性

SIM 1

0.1

+

SIM 2

2.2

-

SIM 3

1.1

-

SIM 4

0.1

+

按极性划分

正极离子覆盖:101

负极离子覆盖:201

SIM 离子

增益

极性

SIM 1

0.1

+

SIM 4

0.1

+

SIM 3

1.1

-

SIM 2

2.2

-

应用覆盖

覆盖失败是因为该方法有两个正 SIM 离子,增益为 0.1,所以需要指定两个质量覆盖。

质量覆盖的数量必须与极性相同的每个唯一增益的 SIM 离子的数量相匹配。

另请参见

运行样品

运行序列