适当的积分事件可最大限度地减少 Oligo 分析中 UV、TIC 和 EIC 的手动积分。建议使用以下设置。请根据色谱性能进行调整。
要更新积分事件,建议使用积分优化器。您也可以直接在积分事件表中编辑积分事件。
有关积分优化器的信息,请参见积分优化器。
准备
您需要以下权限。权限在控制面板中配置。 |
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在 Data Analysis 中,调用采集的 Oligo 数据结果集。
编辑关联到结果的处理方法。
在常规 > 属性下的通用选项卡上:
选择 ChemStation 积分器。
准备信号特定积分。
单击 ChemStation 积分事件 > 标准。选择使用信号特定事件用于 UV 和 TIC SCAN 信号。对于 EIC 信号,请保留通用设置。
提取色谱图以生成 EIC 信号。
作为优化积分的准备工作,从最小校正标样的 TIC 中提取几张色谱图。从已知离子列表中,选择几个响应极低的离子。
优化 UV 信号积分。
选择最小校正标样的 UV 信号。
一般来说,UV 监控图应为早期洗脱和晚期洗脱杂质的峰分裂建立基线。通常情况下,样品基线从 9 分钟到 24 分钟不等,以适应所有较短的早期洗脱杂质。因此,应将积分事件(如峰宽)设置得尽可能宽,例如值 ≥ 1.0。此外,还可以使用基线积分事件手动设置 UV 基线。
在峰前方添加峰面积加和(打开),在峰后方添加峰面积加和(关闭)。
在峰面积加和的起始位置添加开始基线。
调谐最小峰参数(最小峰高、最小峰面积),以便正确应用基线。
确保只更新 UV 信号的事件。在积分优化器中,请勿使用通用更新。
优化 TIC 积分。
选择最小校正标样的 TIC 信号。
调整积分事件,以便对 FLP 峰进行积分。
确保只更新 TIC 信号的事件。在积分优化器中,请勿使用通用更新。
优化 EIC 信号积分。
选择最小校正标样的 EIC 信号。
设置非常灵敏的积分,以适应杂质的变化。例如,为最小峰面积或最小峰面积百分比选择较低的值。
使用更新方法 - 通用功能更新方法。这将更新所有 EIC 信号的积分参数。UV 和 TIC 信号的设置保持不变,这是因为您将其设置为信号特定。
要使用另一个 EIC 信号检查更新后的参数,请再次启动积分优化器并选择使用方法中的参数。
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