开始从质谱图进行手动 MS 谱库搜索

如果您未在重新处理期间提取质谱和搜索谱库：

准备

• 要执行所描述的流程，您需要拥有以下权限：权限在控制面板中配置。

  • 数据处理  > 执行手动 MS 谱库检索

  • 处理方法  > 编辑 MS 谱库检索参数

  • 处理方法  > 编辑质谱/光谱提取参数

• 如果项目执行方法批准，则方法状态必须是通用。有关详细信息，请参阅方法批准。

1. 调用 MS 数据。

   注意

   要使用 LC/MS 数据进行谱库检索，请首先创建自定义谱库。

2. 创建 MS 处理方法。在方法的质谱/光谱分析 > MS 谱库搜索节点中，从 MS 谱库下拉列表中选择一个谱库，然后根据需要调整搜索参数。

   自动搜索 TIC 峰复选框的状态与手动搜索无关。无论如何都会搜索峰。

3. 在处理方法的提取 > 质谱/光谱节点中，根据需要调整背景扣除。

4. 将处理方法关联到相关的进样。

5. 选择相关的 TIC 或 EIC 峰，然后显示这个峰的质谱图。如果您不自动提取质谱，请右键单击该峰，然后选择提取质谱图。

6. 在质谱图窗口中，右键单击特定离子，然后选择在 NIST 谱库检索质谱。

   

7. 在色谱图或结果版面，打开 MS 谱库检索结果窗口。

   MS 谱库检索结果 窗口显示在检索谱库中的匹配结果。单击某个 TIC 峰来选择对应的结果。窗口的右半部分显示的是所选谱库检索结果的参比质谱图。

   在 质谱图窗口中，显示的是为已积分峰提取的质谱。您可以使用谱库检索结果中的参比质谱对其进行比较。如果您选择谱图，相应的峰将会显示在 MS 谱库检索结果窗口中。