质谱 (MS)

有些窗口和功能是特定于质谱的。如要查看这些窗口并访问这些功能,则集中进样必须包含 LC/MS 或 GC/MS 系统采集的 MS 数据。

可用的数据必须采集自:

为特定需求设计了各种不同的处理方法配置:

  • MS:使用 GC/MS 或 LC/MS 进行定量和定性分析。该方法配置包含定性离子、积分参数、信号对齐、UV 和 MS 谱图提取、化合物识别、校正参数、UV 谱图杂质检查、UV 和 MS 谱图确认、系统适用性(例如噪音计算)、报告和自定义计算结果(如果使用)。如果安装了 NIST 谱库,则 MS 谱库检索可用。

  • LC/MS 样品纯度:针对样品纯度确认的定性方法配置,用于最终 R&D 步骤和质量控制。除了 MS 方法配置的参数,还包括手动提取 UV 谱图和 MS 样品纯度结果。与 MS 方法相比,它包含校正参数或系统适用性。

  • LC/MS 谱图解卷积:需要 MS 谱图解卷积。与 MS 相同,但增加了 MS 谱图解卷积设置。

如果您安装了 2D-LC 附加软件,质谱分析将包含其他功能。有关详细信息,请参见 2D-LC 帮助

×