自動測定セクション(LC/MS)

作業内容

自動測定モードでは、最適化された機器パラメータが自動的に設定されます。ユーザー入力は必要ありません。液体クロマトグラフィーメソッド、SIM イオン、および/またはスキャンの m/z 範囲を指定してください。その後、イオン源とイオン光学系パラメータが自動的に設定されます。メソッドのイオン源設定とイオン光学系設定の実測値は、メソッドレポートに表示されます。

LC がコンフィグレーションされている自動測定メソッドを新規作成して(メソッドに変更を加えることなく)保存すると、監査証跡レポートにはイオン源パラメータの値が変更されたことが表示されます。たとえば、メソッドを新規作成した時、LC ポンプのデフォルト流量は 0.0 ml/min です。メソッドを保存すると、LC ポンプの新しい流量が読み込まれ、イオン源パラメータが調整されます。新しいソースパラメータが監査証跡に記録されます。

自動測定セクションの編集

メソッドの編集

MS グローバルパラメータ

メソッド編集の SQ セクションの各セクションには、2 つのペインがあります。MS グローバルパラメータは、[機器の設定]>[SQ]> メソッドセクションのいちばん上に表示されるペインです。[機器の設定]>[SQ]> メソッドセクションのどれかが表示されているときには、このペインが表示されます。「アドバンスト測定 > MS グローバルパラメータペイン」を参照してください。

測定パラメータ

測定パラメータテーブルの各行で[スキャンタイプ]を設定します。使用可能な列はスキャン行と SIM 行で異なります。

測定パラメータテーブル

測定パラメータテーブルには、以下の情報があります。列のヘッダーをクリックすると、テーブルはその列をキーにして並べ替えられます。現在の編集中のセルにエラーが発生した場合、その編集セルはピンク色で表示され、ツールチップに追加情報が表示されます。検証エラーが存在する場合は、メソッドを保存できません。

  • 時間(min) - SIM シグナルの測定を開始する時間。スキャンシグナルは分析時間全体を通じて取り込まれます。そのため、[スキャンタイプ]が[スキャン]の場合、この値は利用できません。

  • スキャンタイプ - スキャンまたは SIM。行の項目内容は、この選択によって変化します。スキャンタイプがスキャンの行は 4 つまで指定できます。

  • 極性 - ポジティブまたはネガティブです。

  • 化合物セグメント名

  • 質量範囲開始(m/z) - 「スキャン範囲」を参照してください。この値は、スキャンタイプスキャンである場合にのみ使用可能です。

  • 質量範囲終了(m/z) - 「スキャン範囲」を参照してください。この値は、スキャンタイプスキャンである場合にのみ使用可能です。

  • 質量(m/z - スキャンタイプが SIM である場合に使用する質量。この値は、スキャンタイプSIM である場合にのみ使用可能です。

自動測定では、スキャンおよび SIM のデフォルトのランプテーブルが使用され、移行後の自動測定メソッドに適用されます。Pro iQ および Pro iQ Plus 機器の場合、SIM セグメントのフラグメンタ電圧は、下表の範囲に基づいて設定されます。

m/z

フラグメンタ(V)

2 <= m/z < 150

100

150 <= m/z < 350

120

350 <= m/z < 600

130

600 <= m/z < 900

140

900 <= m/z < 1200

160

1200 <= m/z < 1500

170

1500 <= m/z < 3000(Pro iQ)

1500 <= m/z < 1600(Pro iQ Plus)

180

目標ポイント/秒 (Hz)

目標ポイント/秒 (Hz)]に希望値を入力します。この値がスキャン質量範囲および/または SIM 質量と共に、データ取り込みに使用されます。概算サイクルタイム(ms/サイクル)が更新されます。

最良のピーク積分と定量を行うために必要となるピークポイントの最適な数は、10 ~ 15 ポイントです。目標ポイント/秒 (Hz) は、クロマトグラム条件から得られるピーク幅に基づいて決定する必要があります。

実測 目標ポイント/秒 (Hz)

1 秒あたりのデータポイントが 1 ~ 15 となる可能性がある値が提供されます。計算は、ポイントの数、質量フィールド、極性、チューニングファイルの値に基づきます。テキストボックスにポイント/秒を入力すると、ソフトウェアがその値を使用して直近の実測ポイント/秒値を計算し、実測ポイント/秒 (Hz) 値が入力されます。目標ポイント/秒 (Hz) 値に最も近い実測 目標ポイント/秒 (Hz) 値が両方に選択されます。実測ポイント/秒に対し可能な値がない場合、SIM % パラメータにエラーメッセージが表示されます。

実測ポイント/秒の値の目的は、入力した目標ポイン/秒に近いポイント/秒を選択することで、機器が達成する実際のデータ測定速度を正確に反映させることです。

概算サイクルタイム (ms/サイクル)

概算サイクルタイムとスキャン速度は概算値です。

すべてのアクティブなシグナルを 1 回実行するために必要な時間(ミリ秒単位)が計算されて表示されます。これは、プログラムされているシグナルでの、クロマトグラフのデータポイントの合計時間と考えることもできます。

開始質量終了質量、または極性(メソッドが混合極性になった場合)を変更すると、概算サイクルタイム(ms/サイクル)が自動的に更新されます。

サイクルタイムは、テーブルにある質量の数を使って自動的に計算されます。

データの保存

セントロイドまたはプロファイルセントロイドでは、質量電化とアバンダンスは、数学的に中央に位置する質量のアナログデータのみが記録されます。ひとつの m/z とアバンダンスデータポイントのみが記録されます。プロファイルでは、フィルターされた生データがすべて保存されます。このため、セントロイドデータよりも多くのディスクスペースを消費します(作成されるデータが大きくなります)。プロファイルは、多価サンプルを扱う場合や、スペクトル平均を多用する場合に使用します。

メソッドにスキャンセグメントがない場合は、データの保存パラメータを使用できません。

SIM %

SIM に使用される各サイクルのパーセンテージ。

SIM % は、1 以上 100 以下の任意の整数です。

メソッドにスキャンセグメントがない場合、SIM % パラメータは 100 になります。

測定パラメータテーブルのツールバー

このツールバーは、測定パラメータテーブルのスキャン行と SIM 行の両方で使用可能です。

ツールバーアイコン

操作

TB_AddRowScanSegments.jpg

テーブルに行を追加します。

TB_InsertRowScanSegments.jpg

テーブルに行を挿入します。

TB_DeleteRowScanSegments.jpg

選択した行をテーブルから削除します。

TB_FillColumnScanSegments.jpg

選択したセルをその列のその他すべてのセルにコピーします。

TB_CutSelectedRowScanSegments.jpg

この機能は利用できません。

TB_CopySelectedRowsScanSegments.jpg

テーブルの選択した行/セルをコピーします。

TB_PasteRowsScanSegments.jpg

行/セルをクリップボードから貼り付けます。

測定パラメータのショートカットメニュー

このショートカットメニューは、このペインで数値またはテキストパラメータを右クリックしたときに利用できます。

切り取り

選択した項目内容を削除します。このコマンドは、現在のパラメータの内容を選択した場合にのみ使用可能です。

コピー

選択した項目内容をコピーします。このコマンドは、現在のパラメータの内容を選択した場合にのみ使用可能です。

貼り付け

クリップボードの内容を現在の場所に貼り付けます。

関連項目

アドバンスト測定 > MS グローバルパラメータペイン

アドバンスト測定 > 測定セクション

アドバンスト測定 > イオン源(LC/MS)

アドバンスト測定 > クロマトグラム

アドバンスト測定 > タイムテーブル