アドバンスト測定 > 測定セクション（LC/MS）

作業内容

ユーザーインターフェイス - MS グローバルパラメータペイン

メソッド編集の SQ セクションの各セクションには、2 つのペインがあります。 MS グローバルパラメータは、［機器の設定］>［SQ］> メソッドセクションのいちばん上に表示されるペインです。［機器の設定］>［SQ］> メソッドセクションのどれかが表示されているときには、このペインが表示されます。「アドバンスト測定 > グローバルパラメータペイン（LC/MS）」を参照してください。

ユーザーインターフェイス

測定パラメータテーブルでスキャンタイプを設定します。使用可能な列はスキャン行と SIM 行で異なります。

測定パラメータテーブル

測定パラメータテーブルには、以下の情報があります。列のヘッダーをクリックすると、テーブルはその列をキーにして並べ替えられます。現在の編集中のセルにエラーが発生した場合、その編集セルはピンク色で表示され、ツールチップに追加情報が表示されます。検証エラーが存在する場合は、メソッドを保存できません。

時間（min）- SIM シグナルの測定を開始する時間。スキャンシグナルは分析時間全体を通じて取り込まれます。そのため、スキャンタイプがスキャンの場合、この値は利用できません。
スキャンタイプ - スキャンまたは SIM。行の項目内容は、この選択によって変化します。スキャンタイプがスキャンの行は 4 つまで指定できます。
極性 - ポジティブまたはネガティブ。
化合物セグメント名
質量範囲開始（m/z） - スキャン範囲（LC/MS）を参照してください。この値は、スキャンタイプがスキャンである場合にのみ使用可能です。
質量範囲終了（m/z） - スキャン範囲（LC/MS）を参照してください。この値は、スキャンタイプがスキャンである場合にのみ使用可能です。
質量（m/z）- スキャンタイプが SIM である場合に使用する質量。この値は、スキャンタイプが SIM である場合にのみ使用可能です。
四重極分解能 - Unit、Wide、Widest。四重極分解能のオプションを選択します。この値は、スキャンタイプが SIM である場合にのみ使用可能です。
スキャン/ドウェルタイム（ms）- この計算は、目標ポイント/秒、質量範囲、SIM % に基づいています。
検出器ゲイン係数 - 「検出器ゲイン係数（LC/MS）」を参照してください。ユーザーが定義した検出器ゲイン係数から変換された EMV が、EMV の最大値（3000 V）に達した場合、またはそれ以上になった場合、EMV は最大値に設定されます。
フラグメンタ（V） - 「フラグメンタ（LC/MS）」を参照してください。この値がランプである場合は、「アドバンスト測定 > ランプテーブル（LC/MS）」を参照してください。
フラグメンタランプ？- このスキャンにフラグメンタランプを使用するかどうかを決定します。このオプションを選択する場合は、をクリックし、「アドバンスト測定 > ランプテーブル（LC/MS）」を参照します。この値は、スキャンタイプがスキャンである場合にのみ使用可能です。
ISTD? - この SIM セグメントが内部標準であるかどうかを示します。この値は、スキャンタイプが SIM である場合にのみ使用可能です。
スレッショルド - スキャンセグメントに使用するスレッショルド。レポートしないシグナルの大きさを決定します。通常の値は 0 から 500 です。この値は、スキャンタイプがスキャンであり、データの保存がセントロイドである場合のみ使用できます。
イオンモード - イオンモードは、マルチモードイオン源が取り付けられているいる場合に使用します。MMI イオン源は、LC/MSD iQ ではサポートされません。

目標ポイント/秒 (Hz)

このチェックボックスをオンにし、達成するポイント/秒を目標ポイント/秒（Hz）パラメータに入力します。スキャンと SIM スキャンタイプがある場合、SIM % が編集可能になります。スキャン/ドウェルタイム（ms）は、目標ポイント/秒（Hz）、スキャン質量範囲、および/または SIM 質量、および SIM % に基づいて計算されます。これらの値のいずれかを変更すると、スキャン/ドウェルタイム（ms）が変化します。

最良のピーク積分と定量を行うために必要となるピークポイントの最適な数は、10 ～ 15 ポイントです。目標ポイント/秒（Hz）を設定する際には、クロマトグラフ条件から得られるピーク幅を考慮する必要があります。

［目標ポイント/秒 (Hz)］チェックボックスをオフにすると、すべてのスキャンタイプのスキャン/ドウェルタイム（ms）の希望値を入力できます。

実測目標ポイント/秒（Hz）

目標ポイント/秒（Hz）に対し、事前に定義された値のいずれかを選択できます。

1 秒あたりのデータポイントが 1 ～ 15 となる可能性がある値が提供されます。計算は、ポイントの数、質量フィールド、極性、チューニングファイルの値に基づきます。テキストボックスにポイント/秒を入力すると、ソフトウェアがその値を使用して直近の実測ポイント/秒値を計算し、実測ポイント/秒（Hz）値が入力されます。目標ポイント/秒値（Hz）に最も近い実測目標ポイント/秒（Hz）値が両方に選択されます。実測ポイント/秒に対し可能な値がない場合、SIM % パラメータにエラーメッセージが表示されます。

実測ポイント/秒の値の目的は、入力した目標ポイン/秒に近いポイント/秒を選択することで、機器が達成する実際のデータ測定速度を正確に反映させることです。

概算サイクルタイム (ms/サイクル)

概算サイクルタイムとスキャン速度は概算値です。

すべてのアクティブなシグナルを 1 回実行するために必要な時間（ミリ秒単位）が計算されて表示されます。これは、プログラムされているシグナルでの、クロマトグラフのデータポイントの合計時間と考えることもできます。

開始質量、終了質量、極性（メソッドが両方の極性を持つ場合）、またはスキャン/ドウェルタイムを変更すると、概算サイクルタイム（ms/サイクル）が自動的に更新されます。

サイクルタイムは、テーブルにある質量の数とドゥエルタイムを使って自動的に計算されます。

データの保存

セントロイドまたはプロファイル。セントロイドでは、質量電化とアバンダンスは、数学的に中央に位置する質量のアナログデータのみが記録されます。ひとつの m/z とアバンダンスデータポイントのみが記録されます。プロファイルでは、フィルターされた生データがすべて保存されます。このため、セントロイドデータよりも多くのディスクスペースを消費します（作成されるデータが大きくなります）。プロファイルは、多価サンプルを扱う場合や、スペクトル平均を多用する場合に使用します。プロファイルの場合、スキャン行のスレッショルドは使用されません。

メソッドにスキャンセグメントがない場合は、データの保存パラメータを使用できません。

概算最大スキャン速度 (Da/s)

スキャン速度は直接設定できません。スキャン範囲、SIM %、実測ポイント/秒などの、その他のパラメータに基づいて計算されます。どのくらいの速さで質量フィルターがスキャンしているかを計算します。

［目標ポイント/秒 (Hz)］を選択した場合、スキャンテーブルで質量範囲開始、質量範囲終了を変更するか、または SIM 行を追加すると、概算最大スキャン速度が更新されます。SIM % 値と目標ポイント/秒（Hz）値によっても影響されます。

［目標ポイント/秒 (Hz)］チェックボックスをオフにした場合、この値はテーブルのスキャン/ドウェルタイム（ms）の影響も受けます。

いずれかの行の質量範囲（質量範囲終了－質量範囲開始）が大きくなると、スキャン速度も増加します（スキャン速度が速くなります）。また、スキャンセグメント数を増やせば、スキャン速度が増加します。

メソッドにスキャンセグメントがない場合は、概算最大スキャン速度 (Da/s) パラメータを使用できません。

SIM %

SIM に使用される各サイクルのパーセンテージ。［目標ポイント/秒］を選択し、スキャンタイプと SIM タイプの両方がテーブルにある場合、この値を編集できます。この値を編集すると、［スキャン/ドウェルタイム (ms)］が変化します。また、［SIM %］値を編集した場合は、［目標ポイント/秒 (Hz)］値も編集する必要があります。

［SIM %］値を手動で変更した場合、［目標ポイント/秒（Hz）］チェックボックスをオフにしてからオンにすることで、SIM % 値を記憶できます。

SIM % は、1 以上 99 以下の任意の整数です。

メソッドに SIM セグメントがない場合は、SIM % パラメータを使用できません。

ユーザーインターフェイス - ツールバー

このツールバーは、測定パラメータテーブルのスキャン行と SIM 行の両方で使用可能です。

ツールバーアイコン	操作
	テーブルに行を追加します。
	テーブルに行を挿入します。
	選択した行をテーブルから削除します。
	選択したセルをその列のその他すべてのセルにコピーします。
	この機能は利用できません。
	テーブルの選択した行/セルをコピーします。
	行/セルをクリップボードから貼り付けます。